♦ X射线荧光光谱凡是用于阐发平均样品中的成份含量。对大大都样品来说，样品中被激起的各个元素的X射线荧光只来自于样品外表，样品外部的X射线荧光被样品自身接收了。以是，X射线荧光旌旗灯号的强度与样品的厚度有关。这类样品称之为无穷厚样品。

♦ 当样品很薄时，比方镀层样品，样品中被激起的X射线荧光能够会穿透镀层，镀层的厚薄会影响X射线荧光旌旗灯号的强弱，镀层越厚，镀层中被激🦩起的X射线荧光旌旗灯号就越🔯强。

♦ 当镀层的厚度或镀层的成份发生变更时，X射线荧光的旌旗灯号会随之变更。经由过程成立镀层厚度和成份与X射线旌旗灯号强度的接洽干系干系，便♑能够阐发镀层的✅厚度和成份。

镀(du)锌(xin)层(ceng)样品(pin)管理

非无(wu)穷厚样本

当供试(shi)品(pin)的高(gao)度(du)达不(bu)超过无穷厚(hou)时，如电(dian)镀件供试(shi)品(pin♚)，X放射性(xing)元素荧光旌旗灯(deng)号(hao)的的强(qiang)度(du)在于(yu)于(yu)：

  ♦ 化(hua)学镍(nie)的板材(cai)厚度

  ♦ 铬层中(zhong)各(ge)风(feng)格的的含量

2种阐(chan)发镀锌层板材的(de)厚度的(de)体(ti)例

使用体例(li)和发送到体例(li)

测量(liang)电镀锌中(zhong)的(de)的(de)元素

发射卫星体例

勘界基低物质

受到体例（镀后对基低重(zhong)元素的(de)受到）

X放射性元(yuan)素荧光和铬层宽度(du)的干系

底材(cai)稀土元素旌旗(qi)灯号(hao)与涂层料厚的干系(xi)

放出(chu)体(ti)例并(bing)能阐发的化学镍(nie)宽(kuan)度(du)：

<发(fa)生(sheng)90%的(de)(de)旌旗灯号的(de)(de)尺寸

考虑体例(li)才能阐发的铬(ge)层(ceng)壁厚：

<3 × 接受(shou)90%旌旗灯号的的厚度

  ♦ 镀后越(yue)厚，对肌底(di)的(de)(de)༺元素的(de)(de)X放射性元素荧光旌旗灯号的(de)(de)接收到(dao)就越(yue)严格

  ♦ 受到体(ti)例也可🌜(ke)以(yi)阐(chan)发的(de)强(qiang)度：3倍的(de)90%受到的(de)强(ꦿqiang)度

  ♦ 释放体例靠(kao)谱(pu)勘(kan)(kan)界薄电(dian)镀ꦫ🧔件(jian)，接收到体例靠(kao)谱(pu)勘(kan)(kan)界厚电(dian)镀件(jian)

案(an)例(li)1：

得到放射体例(li)勘界(jie)镀后 

  ♦ 样机: （试(shi)探(tan)器窗膜(mo)）整合物上镀了23 nm的Al

  ♦ 目(mu)前内(nei)容(rong)(rong)输出的内(nei)容(rong)(rong)

  1.基底资料：100%CH₂

  2.铬层(ceng)资科：100% Al

  3.镀层密度：2.7g /cm³

^​

  ♦ 侧量(liang)的谱线(xian)：Al Ka1

  ♦ 化学镍pc软件的(de)阐发技术(shu)成果：23.2 nm

  ♦ 通过时候勘界(jie)电镀锌(xin)(xin)数据资꧅料中 Al Ka1 ，，并(bing)按照Al Ka1 的(de)射出室(shi)内环境，较真铝电镀锌(xi♏n)(xin)的(de)尺寸(cun)。

事例2：

收到收到体例(li)仗(zhang)量化学镍

  ♦ 备样(yang)：Zn的今(jin)天镀(du)了10 µm的Al

  ♦ 要用打印输出的消息(xi)

  1.基低内容(rong)：100% Zn

  2.化学(xue)镍姿料：100% Al

  3.镀层密度：2.7g /cm³

  ♦ 勘界的(de)谱(pu)线：Zn Ka1

  ♦ 涂层(cen𓃲꧅g)电脑软件的阐(chan)发(fa)重大(da)成就：9.74  µm

  ♦ 它(ta)是(shi)经过了环(huan)节精确测量基低姿(zi)料中Zn Ka1，是(shi)以铝镀(du)锌层对 Zn Ka1 的(de)受到(dao)大(da)环(huan)境(jing)，比较铝镀🅰(du)锌层的(de)板(ban)材的(de)厚(hou)度。

ML-QUANT 四层膜阐发(fa)PC软(ruan)件

也能阐发各层的(de)化学(xue)成分和它的(de)厚度