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MDP少子寿命测试仪 | 铁浓度测定

更新时候:2023-06-11点击次数:1773

有(you)(you)(you)MDPingot和MDPmap编,便(bian)也(ye)(ye)能全主(zhu)动的(de)(de)(de)地勘界(jie)(jie)砖块(kuai)和硅片(pian)里的(de)(de)(de)铁(tie)含(han)量(liang)(liang),然(ran)后分辩率很(hen)是(shi)(shi)高(gao)(gao)。铁(tie)硼对(dui)(dui)解(jie)离前(qian)前(qian)后后的(de)(de)(de)期(qi)限勘界(jie)(jie)有(you)(you)(you)的(de)(de)(de)是(shi)(shi)种**回(hui)(hui)收利(li)用(yong)的(de)(de)(de)法(fa💟)测定硅片(pian)里铁(tie)的(de)(de)(de)体(ti)例。在(zai)高(gao)(gao)搀杂(za)含(han)量(liang)(liang)的(de)(de)(de)掺硼硅中,所(suo)以(yi)(yi)它被代替光伏发电(dian)回(hui)(hui)收利(li)用(yong),近于100%的(de)(de)(de)电(dian)渗(shen)透(tou)性(xing)铁(tie)以(yi)(yi)FeB对(dui)(dui)的(de)(de)(de)态势会(hui)存在(zai)。在(zai)有(you)(you)(you)适足激光能量(liang)(liang)的(de)(de)(de)太阳光照晒下,这样铁(tie)对(dui)(dui)也(ye)(ye)能在(zai)Fe和B中解(jie)离。此任务(wu)管理(li)器(qi)是(shi)(shi)可逆转的(de)(de)(de),在(zai)一(yi)次时间(jian)后,所(suo)有(you)(you)(you)一(yi)切(qie)的(de)(de)(de)FeB对(dui)(dui)旅游(you)城市再联系。FeB和Fei有(you)(you)(you)差同个整顿(dun)本质特征(zheng),是(shi)(shi)以(yi)(yi)解(jie)离对(dui)(dui)勘界(jie)(jie)的(de)(de)(de)期(qi)限有(you)(you)(you)干扰(rao)。在(zai)之类干扰(rao)下,铁(tie)的(de)(de)(de)含(han)量(liang)(liang)也(ye)(ye)能沿途的(de)(de)(de)过程下面体(ti)例那(nei)肯定:

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对铁的检测法,灵活运用了个标定指数公式C,它考量于传递、搀杂渗透压和陷井渗透压,这在多晶硅中一定多加斟酌。途经期间MDP,能对多晶硅和单晶硅硅关闭程序高分辩率的铁渗透压检测法,因此毕竟摹拟和余年的研讨会总结,还应具很高的精确。


照明前的寿命图和发生的铁图

对铁的法测定和进行校正常数的靠性的其他资料,请手机浏览:[1] S. Rein and S. W. Glunz, Journal of Applied Physics 98 (2005).[2] N.Schüler, T.Hahn, K. Dornich, J.R. Niklas, Solid State phenomena to be published


圈套浓度测定的东西

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MDPmap

单晶硅和(he)多晶晶片使用期

精确测(ce)量搭配......

MDPpro

单(dan)晶(jing)(jing)(jing)体(ti)和(he)(he)多晶(jing)(j🅺i𒈔ng)(jing)晶(jing)(jing)(jing)片和(he)(he)晶(jing)(jing)(jing)砖

保修期仗量装置......

MDPspot

低(di)挣钱台型质保꧂(bao)期勘(kan)界采集体系,用做在(zai)不(bu)同之处(chu)配制(zhi)阶......




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