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充电装换请求追溯力是决定构件还会光伏带发电组织体制带发电请求追溯力的关头身分。然后，p型PERC充电芯邦请求追溯力已离近手艺活痛点，迫近虚幻请求追溯力限制，而各样n型充电的芯邦请求追溯力不断扩大有很大的升级空间，手袋出格是TOPCon充电领取了浩繁传奇装备工厂、充电构件工厂和水电站创业工厂的欢迎。光伏发电太阳能模块在野外工作时，必须避免 地饱受日照时间、体温、湿气过高等身分的危害，偏轻移地饱受其他奏效管理机制的危害，例子光致衰减、材质 破坏和电势诱惑衰减（PID）等。近几近年来，报导的PID相互作用变好越来越较着，严肃后会原因分析光伏发电太阳能模块在野外工作中则呈现出大范围的泄电和输出功率衰减画面。

PID效应（Potential Induced Degradation）又称电势引诱衰减，是电池组件的封装资料和其上外表及下外表的资料，电池片与其接地金属边框之间的高电压感化下呈现离子迁徙，而形成组件机能衰减的景象，首要包罗PID-s（并轨型）、PID-p（极化型）和PID-c（侵蚀型）效应。

n型电池的电场绝对p型电池更高，电荷集合对PN结内建电场的影响加倍较着。n型电池载流子外表负荷首要集合于电池正面界面，与p型电池PN结标的目标相反，故PID衰减形式首要集合于电池正面，而电池正面是组件功率输入的主力，造成TOPCon电板的PID相应移就PERC电板多几倍较着。

一旦在组件端呈现PID效应，将会形成严峻的原资料和工序华侈。极大的影响效力与出产节拍。是以本着降本增效的目标，Freiberg instruments与Fraunhofer csp专题会所结(jie)合(he)开(kai)辟出一款꧋能在电池(chi)片端检测PID效应(ying)的(de)PIDcon Bifacial﷽仪器。能同时输入(ru)PID-s（分流型(xing)）、PID-p（极化型(xing)）和PID-c（侵蚀型(xing)）效应(ying)对应(ying)的(de)敏(min)感参(can)数。

所经系统进程将干干充电电池片、二极管封装数据表格资料和有机玻璃在140°C下保冷，退出层压预代理，摹拟干干充电电池片在零部件真个虚幻借助现象。加入的高压变压器和温度，比较大受限制底试验干干充电电池片任何时候零部件真个真实数据表格，以运到良好的予盾性。其试验觉得图如下图1提示。

图1. PIDcon Bifacial仪器的测试表示图

正确处理计划方案

PID-s产生的缘由是：

Na+在高压低压下超脱穿越钝化层添补于Si的堆垛层错中，刺穿并烧坏PN节，这引发串连内阻损坏，导致严格的工作功率需求。是以Freiberg instruments供求平衡的PIDcon Bifacial分析仪器途经任务管理器适时判断电瓶片导电率的增加，来赞美电瓶片对PID-s的的脆弱平均水平。其测评结果如2如图，超出纯天然的城市的参数显示注明电瓶片生产较着的PID-s图景，而测评不情况内没有超出纯天然的城市参数显示注明，此电瓶片对PID-s不的脆弱。

图2. 太阳能电池片PID-s测试进程参数变更(及时监控)

而太阳能电池片产生PID-p时，

外部经济电学器能上核心展现为过压电流大小和引路电流电压的衰减。也据篇资料通讯稿，根据PID-p是阳离子堆积物在钝化层中磨碎了场调节作用，衰减带宽很快，需要直接记实检查过中的IV的身材曲线功能明确其衰减阶段。图3为PIDcon Bifacial分析仪器在考试系统程序运行中快速监测的IV直线，IV直线表明，随着衰减系统程序运行的为止，引路工作电压和串电直流电经常变低，于30min内触达衰减上限。而且经途系统程序运行翻转化学性质来触达使其钝化层规复的个人目标。

图3. 太阳能电池片PID-p衰减与规复进程(及时监控)

对PID-c，

是根据介电层、 通明导电脱色物bopp薄膜或废金属作战的分析化学式反映落实而导致的风蚀作用。这便是的一种生物学体系的撕碎度化，专属于日光能电池板电影片段不可逆转的PID作用。是以，是根据PID-c致使的断路额定电压值、断路直流额定电压和输出越来越低是很慢被信访回复的。当诞生PID-c作用时PIDcon Bifacial仪器设备记实的IV等值线在倒置额定电压值导电性后，很慢信访回复到开始情況，图甲4所显示。

图4. 太阳能电池片PID-c测试进程参数变更(及时监控)

与此此外提出的，Freiberg单位的PIDcon Bifacial医疗仪器能在动力电池组片端的检测其PID不确定性，判断出现实存在PID危险因素的动力电池组片，引魂灯其流进去下作产于端，全面发展终产物良率。也为下作产于端病况了PID软件测试承担连带责任，要此外去往合理费用和全面发展作用的任务。

参照文献综述：

1. Devoto I, Halm A. Comprehensive study of PID mechanisms for n-type bifacial solar cells[C]//Proceedings of the 36th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU PVSEC 2019), Marseille, France. 2019: 9-13.2. Hara K, Jonai S, Masuda A. Potential-induced degradation in photovoltaic modules based on n-type single crystalline Si solar cells[J]. Solar Energy Materials and Solar Cells, 2015, 140: 361-365.3. Luo W, Khoo Y S, Hacke P, et al. Potential-induced degradation in photovoltaic modules: a critical review[J]. Energy & environmental science, 2017, 10(1): 43-68.4. Sporleder K, Turek M, Schüler N, et al. Quick test for reversible and irreversible PID of bifacial PERC solar cells[J]. Solar Energy Materials and Solar Cells, 2021, 219: 110755.