荧光光谱仪是经由进程X射线管发生的X射线作为激光源，激起光源激起样品发生X荧光射线。按照荧光X射线的波长和强度来肯定样品的化学构成。作为一种品德检测手腕，光谱仪在我国各行各业利用愈来愈普遍。研讨光谱仪在阐发进程中的偏差，进步仪器的阐发精确度成为首要的课题。
荧光阐发进程中发生偏差的缘由首要有操纵方面、仪器方面、和试样自身等三方面身分。
一、在荧光光谱仪阐发中操纵方面带来偏差的身分：
1、在光谱仪阐发制样进程中，粉磨时未设定好粉磨时候和压力，达不到请求的粉磨粒度或响应的料度散布。测验考试标明当粉磨时候短于实验设定时候，测定成果就会发生动摇。同时，粉磨时未按划定加适当助磨剂或所加助磨剂中含有所要阐发的元素，城市给测定成果带来较大影响。磨头和磨盘里留有后期样品或被别的物资净化)，成果也会发生偏差。
2、光谱仪阐发制样进程中压片刻，未设定好时候和压力，压力成果不好或压片刻样品布入不平均而发生了样品的聚积散布不均，或压片板(压片头)不干净(或下面粘有后期样品)等，城市影响阐发成果。
3、当样品制好后，制样未掩护好，制样装入试样盒的地位不妥，成果给阐发带来偏差。制样未掩护好有两层寄义：
①、未掩护好制样光亮度。如用手指摸阐发面、或用手指甲划、用口吹、用湿毛巾擦阐发面等;
②制样在氛围中放置太久，使阐发面与氛围中物资发生了物理化学变更。制样装盒地位不妥，把测样片装倒了或测样片外表与试样盒外表成一倾斜角等，城市影响到射线管与阐发面的间隔，从而发生偏差。
4、在光谱仪阐发中，因为阐发面上的样品灰未撤除，时候长了会影响到仪器真空度;或因为操纵者大意，阐发法式选错，如测生料时用上测熟料的阐发曲线或用了测石灰石的曲线，明显成果不准确。
二、荧光光谱仪仪器方面的偏差身分：
1、压片板(或压片头)不光亮，致使阐发面不滑腻，从而影响丈量成果。
2、光路真空度分歧适，分光晶体、滤光片挑选不佳，使各类射线发生搅扰，影响阐发。
3、X射线管电压、电流不不变，从而发生成果动摇。
4、跟着时候的耽误，X光管内部元件尺寸地位变更引发低级X射线强度的变更，或X射线管阳极呈现斑痕，靶元素在窗口堆积，给阐发成果带来偏差。
5、温度的变更，引发分光晶体晶面间距变更，从而影响分光效力。反比计数管高压漂移，温度变更引发管内气体成份变更，影响缩小倍数。
6、电子电路的漂移，计数的统计偏差，检测进程的时候丧失引入的计数偏差等。
7、气体的压力、氮气、甲烷气体的流量、温度等辐射通道前提的变更，城市影响光路中气体对X射线的接收。是以，气瓶的减压阀一旦调好，不要随便再动，出格是改换新气时，必然要测验考试着屡次调气压，不然，因为气流、气压不稳，使成果发生偏差。
三、光谱仪试样自身的偏差身分：
1、试样易磨性。有的试样易磨性较差，对测定构成影响。
2、试样成份。有的试样根基构成成份与规范试样构成成份不分歧，也会影响测定成果。
3、基体效应。基体中别的元素对阐发元素的影响，包含接收和加强效应，接收效应间接影响对阐发元素的激起和阐发元素的探测强度。加强效应使阐发元素特点辐射加强。
4、不平均性效应。X射线强度与颗粒巨细有关，大颗粒接收大，小颗粒接收小，这是试样粒度的影响。
5、谱线搅扰。各谱线系中谱线发生堆叠、搅扰，另有来自差别衍射级次的衍射线之间搅扰。
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更新时候：2022-08-03
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