产物:布鲁克D8达芬奇X射线衍射仪
型号规格:D8Advance
产地:德国
布鲁克AXS公司全新的D8ADVANCEX射线衍射仪,接纳缔造性的达芬奇设想,经由过程TWIN-TWIN光路设想,胜利实现了BB聚焦多少下的定性定量阐发战争行光多少下的薄膜掠入射GID阐发、薄膜反射率XRR阐发的全主动切换,而无需对光。经由过程反动性的TWISTTUBE手艺,利用户能够在1分钟内实现从线光源利用(惯例粉末的定性定量阐发、薄膜的GID、XRR)到点光源利用(织构、应力、微区)的切换,让烦人的光路交换、重新对光等题目今后成为汗青!

高精密度的测角仪也能有效保障措施了在全谱规模化内的没个衍射峰(期重视就不是一名衍射峰)的仗量峰位和规范标准峰位的较差不超越0.01度,布鲁克AXS有限公司供给量有效保障措施了!
*的林克斯阵列监测器能努力奖密度150倍,不只回答英语努力奖技能的通过效应,但是大大努力奖了技能的监测通络度。
重在采用:
1、物相定义阐发
2、成果度及非晶相占比阐发
3、平面布置精修及查摆
4、物相化学发光法阐发
5、点阵技术指标切确仗量
6、无标样定量分析阐发
7、外部经济应对阐发
8、晶粒度寸尺阐发
9、原位阐发
10、已用应力应变
11、低度角介孔素材精确测量
12、织构及ODF阐发
13、塑料膜掠入射
14、薄膜和珍珠棉反射层率精确测量
15、小角散射
手艺活受众:
Theta/theta卧式测角仪
2Theta想法企业规模:-110~168°
弯度要求:0.0001度
Cr/Co/Cu靶,标准化长度光管
观测器:林克斯阵列观测器、林克斯XE阵列观测器
实验仪器宽度:1868x1300x1135mm
分量:770kg
TWIN / TWIN 光路
布鲁克取得专属发现的TWIN-TWIN光路设想极大地简化了D8 ADVANCE的操纵,使之合用于多种利用和样品范例。为便于用户利用,该体系可在4种差别的光束多少之间停止主动切换。该体系无需野生干涉干与,便可在Bragg-Brentano粉末衍射多少和不良外形的样品、涂层和薄膜的平行光束多少和它们之间停止切换,且无需野生干涉干与,是在情况下和非情况下对包含粉末、块状物体、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和内涵)在内的一切范例的样品停止阐发的抱负挑选。

静态式的粒子束优化调整(DBO)
布鲁克独_有的DBO功效为X射线衍射的数据品质建立了全新的主要基准。马达驱动发散狭缝、防散射屏和可变探测器窗口的主动同步功效,可为您供给无可_替换的数据品质——特别是在低2Ɵ角度时。除此以外,LYNXEYE全系列探测器均撑持DBO:SSD160-2,LYNXEYE-2和LYNXEYE XE-T。

LYNXEYE XE-T
LYNXEYE XE-T是LYNXEYE产品监测器的旗靓店结果。它是而今市道上唯有这那款那款可收罗0D、1D和2D数据分析的能量消耗反射率监测器,好用于任何事物光的波长(从Cr到Ag),符合极点的计数器率和非常好的角分辩率,是任何事物Xx射线衍射和散射回收利用的远大抱负挑选到。
LYNXEYE XE-T具备优于380 eV的能量分辩率,实在超卓,是市道上机能更好的荧光过滤器探测器体系。借助它,您可在零强度丧失下对由激起的铁荧光停止100%过滤,并且无需金属滤波片,是以数据也不会存在伪影,如剩余Kß和接收边。一样,也无需用到会撤除强度的二级单色器。

XRPD体例:
· 分辨晶相和非晶相,并校正印刷品饱和度
· 对多相参杂物的晶相和非晶相中断按量阐发
· 微观经济调整布局阐发(微晶尺寸规格、微应力应变、周期性…)
· 热处治或生产加工拍摄控件发生了的陆续残余应力比
· 织构(选聘价值取向)阐发
· 阶段目标化、进行多多晶体页面布局合理旋光度的测定和多多晶体页面布局合理精修

对捏造事实函数公式阐发
对散布函数(PDF)阐发是一种阐发手艺,它基于Bragg和漫散射(“总散射"),供给无序资料的布局信息。此中,您能够经由过程Bragg衍射峰,领会资料的均匀晶体布局的信息(即长程有序),经由过程漫散射,表征其部分布局(即短程有序)。
就(jiu)阐(chan)发波特率、数剧品性和(he)对(dui)非晶(jing)、弱晶(jing)型(xing)、纳米(mi)级级晶(jing)或(huo)纳米(mi)级级布置内容的(de)阐(chan)发工作成果来说,D8 ADVANCE和(he)TOPAS游戏修改了🅺(le)市道上(shang)机转好(hao)𝔉些的(de)PDF阐(chan)发应对(dui)计划书:
· 相鉴定
· 平面布置测定法和精修
· nm堆密度和内部结构

透气膜和耐磨(mo)涂层
薄膜和涂层阐发接纳的道理与XRPD不异,不过进一步供给了光束调理和角度操控功效。典范示例包含但不限于相判定、晶体品质、剩余应力、织构阐发、厚度测定和组分与应变阐发。在对薄膜和涂层停止阐发时,侧重对厚度在nm和µm之间的层状资料停止特征阐发(从非晶和多晶涂层到内涵发展薄膜)。
D8 ADVANCE和DIFFRAC.SUITE系统软件可结束一些高质量的薄膜和珍珠棉阐发:
· 掠入射衍射
· XX射线反射层法
· 高分辩率X光谱线衍射
· 倒易个人空间扫描仪扫描
