►结果先容

TRIFT-V nanoTOF II(三次堆积飞翔时候)二次离子质谱仪是超活络的外表阐发手艺，可检测外表份子成份和散布，元素及其同位素。一切元素和同位素，包含氢都能够用飞翔时候二次离子质谱阐发。由低级脉冲离子束轰击样品外表所产生的二次离子，经飞翔🏅时候阐发器阐发二次离子的荷质比，从而得悉样品外表信息。

PHI nanoTOF II^TM飞翔时候质谱仪是第六代SIMS机器设备，该机器设备具备着*的飞翔时候（TOF）阐发仪，它应有市面 上TOF-SIMS实验室设备里面大的坡度和动能领受范围，它凭借了应有比较好阳离子传递才可以的两级专注半球体除静电阐发器，实现了面间分辩率和口感分辩率。PHI nanoTOF II^TM还必备很高的三维成像才可，够定量分析描摹繁杂的产品的样品而不暗影不确定性。

►飞翔时候质谱仪-特色：

  1、平面搜集角度大和深景深

  2、同时完成地面间及高能量分辩形式

  3、视线规模小可至5微米

  4、低背景和亚稳按捺

  5、多种离子枪选配完成高精度深度分解

  6、FIB-TOF三维深度散布成像

  7、串连质谱MS/MS （无机高份子资料阐发*附件）

  8、SmartSoft^TM-TOF共同WinCadence软件易于操纵

  9、多样化的样品托

►nanoTOF II仪器规格：

Bi 当作次阴离(li)子源时：

  1、低品格保证数品格保证分辩率（m/Δm）：硅（28Si⁺和28SiH⁺）在12000以下

  ♏2、高💃的(de)质量数的(de)质量分辩率（m/Δm）：m/z > 200，在 16,000以下

  3、硅化物数据(ju)资料的好(hao)品质分辩率(lv)（m/Δm）：PET（104 amu）在(zai🍌)12000上🌜面

  4、小铝(lv)离(li)子束半径(jing)：70纳米技术(shu)（水平(ping)面(mian)间分(fen)辩率组织形(xing💜)势）、0.5μm（高产(chan)品分(fen)辩率组织形(xing)势）

►nanoTOF II标配

串(chuan)连质谱MS/MS、氩(ya)气(qi)团簇(cu)铁阴(yin)阳(yang)(yang)化(hua)(hua)(hua)合(he)物枪(qiang)、C60铁阴(yin)阳(yang)(yang)化(hua)(hua)(hua)合(he)物枪(qiangꦫ)、铯铁阴(yin)阳(yang)(yang)化(hua)♓(hua)(hua)合(he)物枪(qiang)、氩(ya)／氧铁阴(yin)阳(yang)(yang)化(hua)(hua)(hua)合(he)物溅(jian)射枪(qiang)、仿品蒸发/调(diao)温采集装(zhuang)修(xiu)标准(zhun)(zhun)、仿品低温制(zhi)冷的效(xiao)果调(diao)温采集装(zhuang)修(xiu)标准(zhun)(zhun)、蒸空转回配备、氧蔓(man)延采集装(zhuang)修(xiu)标准(zhun)(zhun)、Zalar公路扭(niu)转弹簧采集装(zhuang)修(xiu)标准(zhun)(zhun)、自动对(dui)焦(jiao)铁阴(yin)阳(yang)(yang)化(hua)(hua)(hua)合(he)物束FIB（Focused Ion Beam）、前防范室、几大类仿品托、云同步数据报告防范采集装(zhuang)修(xiu)标准(zhun)(zhun)、Static SIMS Library等(deng)。                        &�🔜�nbsp;